基本試驗(yàn)
　　(1)絕緣電阻的測試 通常用100V、250V、500V、1000V、2500V和5000V等兆歐表之一進(jìn)行絕緣電阻的測試，絕緣電阻值的大小，能有效地反映絕緣的整體受潮、污穢以及嚴(yán)重過熱老化等缺陷。
　　(2)泄漏電流的測試 測量設(shè)備的泄漏電流和絕緣電阻本質(zhì)上沒有多大區(qū)別，但是泄漏電流的測量有如下特點(diǎn)：
　　1)試驗(yàn)電壓比兆歐表高得多，絕緣本身的缺陷容易暴露，能發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷;
　　2)通過測量泄漏電流和外加電壓的關(guān)系有助于分析絕緣的缺陷類型;
　　3)泄漏電流測量用的微安表要比兆歐表精度高。
　　(3)直流耐壓試驗(yàn) 直流耐壓試驗(yàn)電壓較高，對發(fā)現(xiàn)絕緣某些局部缺陷具有特殊的作用，可與泄漏電流試驗(yàn)同時(shí)進(jìn)行。直流耐壓試驗(yàn)與交流耐壓試驗(yàn)相比，具有試驗(yàn)設(shè)備輕便、對絕緣損傷小和易于發(fā)現(xiàn)設(shè)備的局部缺陷等優(yōu)點(diǎn)。
　　(4)交流耐壓試驗(yàn) 交流耐壓試驗(yàn)對絕緣的考驗(yàn)非常嚴(yán)格，能有效地發(fā)現(xiàn)較危險(xiǎn)的集中性缺陷。它是鑒定電氣設(shè)備絕緣強(qiáng)度最直接的方法，對于判斷電氣設(shè)備能否投入運(yùn)行具有決定性的意義，也是保證設(shè)備絕緣水平、避免發(fā)生絕緣事故的重要手段。
　　(5)介質(zhì)損耗因數(shù)tgd測試 介質(zhì)損耗因數(shù)tgd是反映絕緣性能的基本指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗因數(shù)tgd反映絕緣損耗的特征參數(shù)，它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。
　　(6)電容比的測量 因變壓器等其絕緣為纖維材料的線圈繞組很容易吸收水分，使介質(zhì)常數(shù)增大，引起其電容也隨之增大，所以用測量電容比法來檢驗(yàn)纖維絕緣的受潮狀態(tài)是最有效的方法。
　　(7)三倍頻及工頻感應(yīng)耐壓試驗(yàn) 對變壓器、電抗器等設(shè)備的主絕緣進(jìn)行感應(yīng)高電壓耐壓試驗(yàn)，以考核繞組間、匝間絕緣耐壓能力。又因三次諧波的三相疊加等于三相三次波的代數(shù)和，其感應(yīng)電壓為最高，對絕緣的破壞性也最大，故需作三倍頻的感應(yīng)耐壓試驗(yàn)。
　　(8)沖擊波試驗(yàn) 電氣設(shè)備在運(yùn)行中可能遇到雷電壓及操作過程電壓的沖擊作用，故沖擊波試驗(yàn)是檢驗(yàn)電氣設(shè)備承受雷電壓和操作電壓的絕緣性能和保護(hù)性能。
　　(9)局部放電試驗(yàn) 由于絕緣材料本身的缺陷，在工作電壓下形成局部放電是造成絕緣老化并發(fā)展到擊穿的主要原因，因此檢測局部放電程度，可為決定和采取預(yù)防措施提供依據(jù)，故規(guī)程把局部放電作為高壓電氣設(shè)備絕緣試驗(yàn)的項(xiàng)目之一。
　　(10)接地電阻測試 用接地電阻測試儀測試接地裝置的接地電阻值。按一般設(shè)計(jì)要求，針式接地極的接地電阻應(yīng)小于4Ω;板式接地極的接地電阻不應(yīng)大于lΩ。如接地裝置的接地電阻達(dá)不到上述標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)加“降阻劑”或增加接地極的數(shù)量或更換接地極的位置后，再測試接地電阻直到合乎標(biāo)準(zhǔn)為止。

　　點(diǎn)擊查看＞＞2013年造價(jià)工程師考試大綱及教材調(diào)整

　　點(diǎn)擊查看＞＞2013年造價(jià)工程師考試教材變化專題